產品系列
晶圓刻號檢驗機
DETAIL詳細介紹
可提供手動及自動款式
1. 漸昇式舉片，易於目視檢驗wafer ID.
1. 漸昇式舉片，易於目視檢驗wafer ID.
2.可依客製化需求修改，以符合薄片晶圓的需求。
3.可適用各種晶圓尺寸。
4.內建晶舟位置指引輔助。
5.25度斜角，增強判讀效率。
6.ESD safe。
可預防灰塵因靜電而吸附之困擾
